书目信息

书名： 数字系统测试和可测试性设计 
作者： 纳瓦比 著 ；贺海文 ， 唐威昀 译
出版信息： 北京   机械工业出版社  2015.06
开本页数： 24cm  XV, 368页
丛书名： 电子与嵌入式系统设计译丛
单 册：
中图分类： TP271
科图分类：
主题词： 数字系统--shu zi xi tong--系统测试
电子资源：
ISBN： 978-7-111-50154-1
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    数字系统测试和可测试性设计/(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比著= Digital system test and testable design using HDL models and architectures/Zainalabedin Navabi/贺海文, 唐威昀译.-北京：机械工业出版社，2015.06
    XV, 368页：图；24cm.-(电子与嵌入式系统设计译丛)
    
    
    ISBN 978-7-111-50154-1：CNY85.00
    这本书论述了数字系统测试和可测性设计, 它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。
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正题名：数字系统测试和可测试性设计     索取号：TP271/N040         预约/预借

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1 1262095   212620957   自科库301/301自科库 41排4列3层/ [索取号:TP271/N040] 在馆    
2 1262096   212620966   自科库301/301自科库 41排4列3层/ [索取号:TP271/N040] 在馆    
3 1262097   212620975   自科二线404/404自科库 9排2列6层/ [索取号:TP271/N040] 在馆