书目信息 |
| 题名： |
数字系统测试和可测试性设计
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| 作者： | 纳瓦比 著 ；贺海文 ， 唐威昀 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 机械工业出版社 2015.06 |
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| 页数： | XV, 368页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 电子与嵌入式系统设计译丛 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TP271 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 数字系统--shu zi xi tong--系统测试 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-111-50154-1 | |
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| 306 | @a由Springer Science+ Business Media授权出版 | |
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| 330 | @a这本书论述了数字系统测试和可测性设计, 它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。 | |
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| 数字系统测试和可测试性设计/(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比著= Digital system test and testable design using HDL models and architectures/Zainalabedin Navabi/贺海文, 唐威昀译.-北京：机械工业出版社，2015.06 |
| XV, 368页：图；24cm.-(电子与嵌入式系统设计译丛) |
| ISBN 978-7-111-50154-1：CNY85.00 |
| 这本书论述了数字系统测试和可测性设计, 它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。 |
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正题名：数字系统测试和可测试性设计
索取号：TP271/N040
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1262095 | 212620957 | 自科库301/301自科库 41排4列3层/ [索取号:TP271/N040] | 在馆 | |
| 2 | 1262096 | 212620966 | 自科库301/301自科库 41排4列3层/ [索取号:TP271/N040] | 在馆 | |
| 3 | 1262097 | 212620975 | 自科二线404/404自科库 9排2列6层/ [索取号:TP271/N040] | 在馆 |