书目信息 |
| 题名: |
电子技术基础实验
|
|
| 作者: | 汪学典 主编 | |
| 分册: | ||
| 出版信息: | 武汉 华中科技大学出版社 2006.08 |
|
| 页数: | 207页 | |
| 开本: | 23cm | |
| 丛书名: | 21世纪电工电子系列教材 | |
| 单 册: | ||
| 中图分类: | TN-42 | |
| 科图分类: | ||
| 主题词: | 电子技术--dian zi ji shu--实验--高等学校--教材 | |
| 电子资源: | ||
| ISBN: | 7-5609-3761-6 | |
| 000 | 00937nam 2200253 450 | |
| 001 | 0100017081 | |
| 010 | @a7-5609-3761-6@dCNY18.80 | |
| 100 | @a20061209d2006 km y0chiy0120 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b420000 | |
| 105 | @aa a 000yy | |
| 200 | 1 | @a电子技术基础实验@Adian zi ji shu ji chu shi yan@f汪学典主编@Fwang xue dian zhu bian |
| 210 | @a武汉@c华中科技大学出版社@d2006.08 | |
| 215 | @a207页@c图@d23cm | |
| 225 | 2 | @a21世纪电工电子系列教材@A21 shi ji dian gong dian zi xi lie jiao cai |
| 320 | @a有书目 | |
| 330 | @a本书共分7章,其内容为常用元器件与一般测试;基本测量技术;测量误差 与测量数据的处理;模拟电路实验;数字电路实验;模拟、数字综合设计性实验等。 | |
| 410 | 0 | @12001 @a21世纪电工电子系列教材 |
| 606 | 0 | @a电子技术@Adian zi ji shu@x实验@x高等学校@j教材 |
| 690 | @aTN-42@v4 | |
| 701 | 0 | @a汪学典@Awang xue dian@4主编 |
| 801 | @aCN@bnygyxylib | |
| 901 | @a211124 | |
| 905 | @f3@b976516-8@dTN-42@eW070 | |
| 电子技术基础实验/汪学典主编.-武汉:华中科技大学出版社,2006.08 |
| 207页:图;23cm.-(21世纪电工电子系列教材) |
| ISBN 7-5609-3761-6:CNY18.80 |
| 本书共分7章,其内容为常用元器件与一般测试;基本测量技术;测量误差 与测量数据的处理;模拟电路实验;数字电路实验;模拟、数字综合设计性实验等。 |
| ● |
| 相关链接 |
|
|
|
正题名:电子技术基础实验
索取号:TN-42/W070
 
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 976516 | 209765164 | 期刊室512/301自科库 16排3列1层/ [索取号:TN-42/W070] | 在馆 | |
| 2 | 976517 | 209765173 | 自科库301/301自科库 23排2列2层/ [索取号:TN-42/W070] | 在馆 | |
| 3 | 976518 | 209765182 | 期刊室512/301自科库 16排3列1层/ [索取号:TN-42/W070] | 在馆 |