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书名：
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温度对微电子和系统可靠性的影响
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作者：
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拉尔
著
；贾颖
译
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出版信息：
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北京
国防工业出版社
2008.7
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开本页数：
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28cm
217页
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丛书名：
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单 册：
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中图分类：
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TN4
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科图分类：
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主题词：
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微电子技术
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电子资源：
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ISBN：
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978-7-118-05484-2
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| 温度对微电子和系统可靠性的影响/（美）拉尔著/贾颖译.-北京：国防工业出版社，2008.7 |
| 217页；28cm |
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| ISBN 978-7-118-05484-2：CNY32.00 |
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正题名：温度对微电子和系统可靠性的影响
索取号：TN4/L003
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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857606
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208576067
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自科二线404/404自科库 18排6列6层/
[索取号:TN4/L003]
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在馆
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2
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857607
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208576076
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自科库301/301自科库 26排2列5层/
[索取号:TN4/L003]
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在馆
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3
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857608
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208576085
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自科库301/301自科库 26排2列5层/
[索取号:TN4/L003]
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在馆
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