书目信息 |
| 题名： |
温度对微电子和系统可靠性的影响
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| 作者： | 拉尔 著 ；贾颖 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 国防工业出版社 2008.7 |
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| 页数： | 217页 | |
| 开本： | 28cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN4 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 微电子技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-118-05484-2 | |
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| 温度对微电子和系统可靠性的影响/（美）拉尔著/贾颖译.-北京：国防工业出版社，2008.7 |
| 217页；28cm |
| ISBN 978-7-118-05484-2：CNY32.00 |
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| 相关链接 |
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正题名：温度对微电子和系统可靠性的影响
索取号：TN4/L003
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 857606 | 208576067 | 自科二线404/404自科库 18排6列6层/ [索取号:TN4/L003] | 在馆 | |
| 2 | 857607 | 208576076 | 自科库301/301自科库 34排4列3层/ [索取号:TN4/L003] | 在馆 | |
| 3 | 857608 | 208576085 | 自科库301/301自科库 34排4列3层/ [索取号:TN4/L003] | 在馆 |