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000
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01152nam 2200301 450
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001
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005
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20100601141403.92
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100
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@a20100601d2009 em y0chiy0120 ea
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101
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@achi
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102
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105
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@ar
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200
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1
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@a光电检测技术@Aguang dian jian ce ji shu@f曾光宇, 张志伟, 张存林主编@Fceng guang yu,zhang zhi wei,zhang cun lin zhu bian
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205
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@a第2版
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210
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@a北京@c北京交通大学出版社@d2009.09
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215
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@a272页@c图@d26cm
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225
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2
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@a高等学校电子信息类系列教材@Agao deng xue xiao dian zi xin xi lei xi lie jiao cai
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320
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@a有书目 (第271-272页)
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330
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@a书介绍了光电检测系统的构成和应用基础知识。重点叙述了光电检测过程中常用的光源和各种性能的探测器,并对目前光电子学的前沿内容THz技术作了简单介绍。
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410
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0
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@12001 @a高等学校电子信息类系列教材
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606
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0
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@a光电检测@Aguang dian jian ce@x高等学校@j教材
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@aTN206@v4
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701
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@aCN@bQSSK@c20100601
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905
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@b780530-32@dTN206@eZ023@f3
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| 光电检测技术/曾光宇, 张志伟, 张存林主编.-第2版.-北京:北京交通大学出版社,2009.09 |
| 272页:图;26cm.-(高等学校电子信息类系列教材) |
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| ISBN 978-7-81123-748-1:CNY29.00 |
| 书介绍了光电检测系统的构成和应用基础知识。重点叙述了光电检测过程中常用的光源和各种性能的探测器,并对目前光电子学的前沿内容THz技术作了简单介绍。 |
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正题名:光电检测技术
索取号:TN206/Z023
 
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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780530
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207805302
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自科库301/404自科库 14排6列1层/
[索取号:TN206/Z023]
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在馆
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2
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780531
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207805311
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自科库301/301自科库 25排3列1层/
[索取号:TN206/Z023]
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在馆
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3
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780532
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207805320
|
自科库301/301自科库 25排3列1层/
[索取号:TN206/Z023]
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在馆
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