书目信息 |
题名: |
伪集成电路检测与防护
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作者: | 吉恩 , 福特 , 德黑兰尼普尔 著 ;李雄伟 译 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 国防工业出版社 2022.07 |
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页数: | XX, 227页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TN407 | |
科图分类: | ||
主题词: | 集成电路--ji cheng dian lu--检测 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-118-12500-9 |
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330 | @a本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。 | |
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伪集成电路检测与防护/(美) 马克 (穆罕默德) ·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著= Counterfeit integrated circuits: detection and avoidance/Mark (Mohammad) Tehranipoor, Ujjwal Guin, Domenic Forte/李雄伟 ... [等] 译.-北京:国防工业出版社,2022.07 |
XX, 227页:图;24cm |
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ISBN 978-7-118-12500-9(精装):CNY125.00 |
本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。 |
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正题名:伪集成电路检测与防护
索取号:TN407/D210
 
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