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题名:
伪集成电路检测与防护
    
 
作者: 吉恩 , 福特 , 德黑兰尼普尔 著 ;李雄伟 译
分册:  
出版信息: 北京   国防工业出版社  2022.07
页数: XX, 227页
开本: 24cm
丛书名:
单 册:
中图分类: TN407
科图分类:
主题词: 集成电路--ji cheng dian lu--检测
电子资源:
ISBN: 978-7-118-12500-9
 
 
 
 
 
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200 1  @a伪集成电路检测与防护@Awei ji cheng dian lu jian ce yu fang hu@f(美) 马克 (穆罕默德) ·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著@d= Counterfeit integrated circuits: detection and avoidance@fMark (Mohammad) Tehranipoor, Ujjwal Guin, Domenic Forte@g李雄伟 ... [等] 译@zeng
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330    @a本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。
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    伪集成电路检测与防护/(美) 马克 (穆罕默德) ·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著= Counterfeit integrated circuits: detection and avoidance/Mark (Mohammad) Tehranipoor, Ujjwal Guin, Domenic Forte/李雄伟 ... [等] 译.-北京:国防工业出版社,2022.07
    XX, 227页:图;24cm
    装备科技译著出版基金
    
    ISBN 978-7-118-12500-9(精装):CNY125.00
    本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。
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正题名:伪集成电路检测与防护     索取号:TN407/D210         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 1598000   215980008   自科库301/301自科库 20排1列3层/ [索取号:TN407/D210] 在馆    
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