书目信息 |
| 题名： |
伪集成电路检测与防护
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| 作者： | 吉恩 ， 福特 ， 德黑兰尼普尔 著 ；李雄伟 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 国防工业出版社 2022.07 |
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| 页数： | XX, 227页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN407 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--ji cheng dian lu--检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-118-12500-9 | |
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| 330 | @a本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。 | |
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| 伪集成电路检测与防护/(美) 马克 (穆罕默德) ·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著= Counterfeit integrated circuits: detection and avoidance/Mark (Mohammad) Tehranipoor, Ujjwal Guin, Domenic Forte/李雄伟 ... [等] 译.-北京：国防工业出版社，2022.07 |
| XX, 227页：图；24cm |
| 装备科技译著出版基金 |
| ISBN 978-7-118-12500-9(精装)：CNY125.00 |
| 本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。 |
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正题名：伪集成电路检测与防护
索取号：TN407/D210
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