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@a纳米材料的X射线分析@Ana mi cai liao de X she xian fen xi@d= X-ray analysis of nano materials@f程国峰, 杨传铮编著@zeng
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@a第2版
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@a北京@c化学工业出版社@d2019.06
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@a351页@c图@d24cm
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@a有书目
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@a本书是主要介绍利用X射线等激发样品从而表征材料结构, 特别是纳米材料晶体结构相关信息的专著。考虑到纳米材料的特殊性, 本书分为三个部分: 晶体学基础、X射线衍射理论基础、X射线实验装置和方法等四章为基础部分 ; 中间部分是X射线衍射分析方法和应用, 包括物相定性和定量、晶体学参数测定、纳米材料微结构的衍射线形分析、Rietveld结构精修和小角散射等 ; 最后介绍了化学组成和原子价态、纳米薄膜和介孔材料等的X射线分析。
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| 纳米材料的X射线分析= X-ray analysis of nano materials/程国峰, 杨传铮编著.-第2版.-北京：化学工业出版社，2019.06 |
| 351页：图；24cm |
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| ISBN 978-7-122-33416-9：CNY88.00 |
| 本书是主要介绍利用X射线等激发样品从而表征材料结构, 特别是纳米材料晶体结构相关信息的专著。考虑到纳米材料的特殊性, 本书分为三个部分: 晶体学基础、X射线衍射理论基础、X射线实验装置和方法等四章为基础部分 ; 中间部分是X射线衍射分析方法和应用, 包括物相定性和定量、晶体学参数测定、纳米材料微结构的衍射线形分析、Rietveld结构精修和小角散射等 ; 最后介绍了化学组成和原子价态、纳米薄膜和介孔材料等的X射线分析。 |
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正题名：纳米材料的X射线分析
索取号：TB383/C740=2
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1428847
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214288475
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自科二线504/504自科库 28排2列1层/
[索取号:TB383/C740=2]
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在馆
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2
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1428848
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214288484
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自科库501/501自科库 14排1列1层/
[索取号:TB383/C740=2]
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在馆
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