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| 微电子计量测试技术/沈森祖主编.-西安：西北工业大学出版社，2009.07 |
| 227页；26cm |
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| ISBN 978-7-5612-2516-5：CNY30.00 |
| 本书主要从工程的实际应用出发，系统的介绍了微电子计量测试的基本概念，本书可供相关技术人员和科研人员阅读参考。 |
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正题名：微电子计量测试技术
索取号：TN407/S419
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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782988
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自科库301/301自科库 26排4列4层/
[索取号:TN407/S419]
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在馆
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2
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自科库301/301自科库 26排4列4层/
[索取号:TN407/S419]
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在馆
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3
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782990
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207829901
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期刊室512/301自科库 20排1列3层/
[索取号:TN407/S419]
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在馆
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