书目信息 |
题名: |
微电子计量测试技术
|
|
作者: | 沈森祖 主编 | |
分册: | ||
出版信息: | 西安 西北工业大学出版社 2009.07 |
|
页数: | 227页 | |
开本: | 26cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TN407 | |
科图分类: | ||
主题词: | 微电子技术--wei dian zi ji shu--计量--技术 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-5612-2516-5 |
000 | 00784nam0 2200229 450 | |
001 | 012010188497 | |
005 | 20100625142304.88 | |
010 | @a978-7-5612-2516-5@dCNY30.00 | |
100 | @a20100624d2009 em y0chiy0120 ea | |
101 | 0 | @achi |
102 | @aCN@b610000 | |
105 | @ay z 000yy | |
106 | @ar | |
200 | 1 | @a微电子计量测试技术@Awei dian zi ji liang ce shi ji shu@f沈森祖主编@Fshen sen zu zhu bian |
210 | @a西安@c西北工业大学出版社@d2009.07 | |
215 | @a227页@d26cm | |
330 | @a本书主要从工程的实际应用出发,系统的介绍了微电子计量测试的基本概念,本书可供相关技术人员和科研人员阅读参考。 | |
606 | 0 | @a微电子技术@Awei dian zi ji shu@x计量@x技术 |
690 | @aTN407@v4 | |
701 | 0 | @a沈森祖@Ashen sen zu@4主编 |
801 | 0 | @aCN@bQSSK@c20100625 |
905 | @b782988-90@dTN407@eS419@f3 | |
微电子计量测试技术/沈森祖主编.-西安:西北工业大学出版社,2009.07 |
227页;26cm |
ISBN 978-7-5612-2516-5:CNY30.00 |
本书主要从工程的实际应用出发,系统的介绍了微电子计量测试的基本概念,本书可供相关技术人员和科研人员阅读参考。 |
● |
相关链接 |
正题名:微电子计量测试技术
索取号:TN407/S419
 
预约/预借
序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
1 | 782988 | 207829885 | 自科库301/301自科库 20排1列3层/ [索取号:TN407/S419] | 在馆 | |
2 | 782989 | 207829894 | 自科库301/301自科库 20排1列3层/ [索取号:TN407/S419] | 在馆 | |
3 | 782990 | 207829901 | 自科库301/301自科库 20排1列3层/ [索取号:TN407/S419] | 在馆 |