书目信息 |
| 题名： |
微电子计量测试技术
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| 作者： | 沈森祖 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 西安 西北工业大学出版社 2009.07 |
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| 页数： | 227页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN407 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 微电子技术--wei dian zi ji shu--计量--技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-5612-2516-5 | |
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| 微电子计量测试技术/沈森祖主编.-西安：西北工业大学出版社，2009.07 |
| 227页；26cm |
| ISBN 978-7-5612-2516-5：CNY30.00 |
| 本书主要从工程的实际应用出发，系统的介绍了微电子计量测试的基本概念，本书可供相关技术人员和科研人员阅读参考。 |
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正题名：微电子计量测试技术
索取号：TN407/S419
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 782988 | 207829885 | 自科库301/301自科库 35排2列3层/ [索取号:TN407/S419] | 在馆 | |
| 2 | 782989 | 207829894 | 自科库301/301自科库 35排2列3层/ [索取号:TN407/S419] | 在馆 | |
| 3 | 782990 | 207829901 | 期刊室512/301自科库 20排1列3层/ [索取号:TN407/S419] | 在馆 |