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000
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01167nam0 2200277 450
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001
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CAL 0120227350062
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@a978-7-302-59040-8@dCNY178.00
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@ar
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@a高速数字接口与光电测试@Agao su shu zi jie kou yu guang dian ce shi@f李凯著
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@a北京@c清华大学出版社@d2022.01
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@a425页@c图@d26cm
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@a英文题名取自封面
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@a李凯, 资深技术顾问与高速测试技术专家。
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@a本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。
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@aHigh speed digital interface and photoelectric test@zeng
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@a数字接口@Ashu zi jie kou@x接口技术
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@a光电检测@Aguang dian jian ce@x测试技术
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@aTN206@v5
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@a李凯@Ali kai@4著
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@aCN@c20220906
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@a河南城建学院图书馆@dTN919.5@eL193@f1
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| 高速数字接口与光电测试/李凯著.-北京：清华大学出版社，2022.01 |
| 425页：图；26cm |
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| ISBN 978-7-302-59040-8：CNY178.00 |
| 本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。 |
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正题名：高速数字接口与光电测试
索取号：TN919.5/L193
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1564518
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215645185
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自科库301/301自科库 998排8列2层/
[索取号:TN919.5/L193]
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在馆
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