书目信息 |
| 题名： |
高速数字接口与光电测试
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| 作者： | 李凯 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 清华大学出版社 2022.01 |
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| 页数： | 425页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN206 ， TN919.5 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 数字接口--shu zi jie kou--接口技术 , 光电检测--guang dian jian ce--测试技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-302-59040-8 | |
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| 312 | @a英文题名取自封面 | |
| 314 | @a李凯, 资深技术顾问与高速测试技术专家。 | |
| 330 | @a本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。 | |
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| 高速数字接口与光电测试/李凯著.-北京：清华大学出版社，2022.01 |
| 425页：图；26cm |
| ISBN 978-7-302-59040-8：CNY178.00 |
| 本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。 |
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正题名：高速数字接口与光电测试
索取号：TN919.5/L193
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