书目信息 |
| 题名： |
电子元器失效分析及应用
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| 作者： | 夏泓 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 国防工业出版社 1998.02 |
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| 页数： | 155页 | |
| 开本： | 32开 | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN6 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元件 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-118-01811-2 | |
| 000 | 00558nam0 2200193 45 | |
| 001 | 0104061486 | |
| 005 | 20010406144912.2 | |
| 010 | @a7-118-01811-2@d8.00元 | |
| 100 | @a20010406d1998 km y0chiy0120 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 105 | @a z 000yy | |
| 200 | 1 | @a电子元器失效分析及应用@ADian Zi Yuan Qi Shi Xiao Fen Xi Ji Ying Yong@f夏泓主编@FXia Hong Zhu Bian |
| 210 | @a北京@c国防工业出版社@d1998.02 | |
| 215 | @a155页@d32开 | |
| 606 | 0 | @a电子元件 |
| 690 | @aTN6@v3 | |
| 701 | 0 | @a夏泓@4主编 |
| 801 | @aCN@bPftUser@c20010406 | |
| 905 | @b336077@dTN6@eX.294@f1 | |
| 电子元器失效分析及应用/夏泓主编.-北京：国防工业出版社，1998.02 |
| 155页；32开 |
| ISBN 7-118-01811-2：8.00元 |
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| 相关链接 |
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正题名：电子元器失效分析及应用
索取号：TN6/X.294
预约/预借
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| 1 | 336077 | 203360772 | 自科二线404/404自科库 18排1列5层/ [索取号:TN6/X.294] | 在馆 |