书目信息 |
题名: |
公差配合与技术测量
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作者: | 张文革 , 石枫 主编 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 北京理工大学出版社 2010.07 |
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页数: | 368页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TG801 | |
科图分类: | ||
主题词: | 公差--配合--高等教育--教材 , 技术测量--高等教育--教材 | |
电子资源: | ||
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公差配合与技术测量/张文革,石枫主编.-北京:北京理工大学出版社,2010.07 |
368页:图表;24cm |
面向“十二五”高等教育课程改革项目研究成果 |
ISBN 978-7-5640-3627-0:CNY45.00 |
本书内容包括:极限与配合基础、技术测量基础、形状和位置公差及检测、常用典型结合的公差及其检测等。 |
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正题名:公差配合与技术测量
索取号:TG801/Z191
 
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