书目信息 |
| 题名： |
纳米级系统芯片单粒子效应研究
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| 作者： | 贺朝会 ， 杜雪成 ， 杨卫涛 ， 杜小智 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2021.05 |
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| 页数： | 191页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN430.3 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成芯片--ji cheng xin pian--单粒子态--研究 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-067328-2 | |
| 000 | 01160nam0 2200277 450 | |
| 001 | 2261114007 | |
| 010 | @a978-7-03-067328-2@dCNY98.00 | |
| 100 | @a20210621d2021 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aa a 000yy | |
| 106 | @ar | |
| 200 | 1 | @a纳米级系统芯片单粒子效应研究@Ana mi ji xi tong xin pian dan li zi xiao ying yan jiu@f贺朝会 ... [等] 著 |
| 210 | @a北京@c科学出版社@d2021.05 | |
| 215 | @a191页@c图@d24cm | |
| 304 | @a题名页题其余责任者: 杜雪成, 杨卫涛, 杜小智 | |
| 320 | @a有书目 (第181-191页) | |
| 330 | @a本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。 | |
| 606 | 0 | @a集成芯片@Aji cheng xin pian@x单粒子态@x研究 |
| 690 | @aTN430.3@v5 | |
| 701 | 0 | @a贺朝会@Ahe zhao hui@4著 |
| 701 | 0 | @a杜雪成@Adu xue cheng@4著 |
| 701 | 0 | @a杨卫涛@Ayang wei tao@4著 |
| 701 | 0 | @a杜小智@Adu xiao zhi@4著 |
| 801 | 0 | @aCN@c20220906 |
| 905 | @a河南城建学院图书馆@dTN430.3@eH324 | |
| 纳米级系统芯片单粒子效应研究/贺朝会 ... [等] 著.-北京：科学出版社，2021.05 |
| 191页：图；24cm |
| ISBN 978-7-03-067328-2：CNY98.00 |
| 本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。 |
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正题名：纳米级系统芯片单粒子效应研究
索取号：TN430.3/H324
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1574537 | 215745371 | 自科库301/301自科库 20排4列1层/ [索取号:TN430.3/H324] | 在馆 |