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01160nam0 2200277 450
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2261114007
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@a978-7-03-067328-2@dCNY98.00
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@a20210621d2021 em y0chiy50 ea
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@aCN@b110000
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@a纳米级系统芯片单粒子效应研究@Ana mi ji xi tong xin pian dan li zi xiao ying yan jiu@f贺朝会 ... [等] 著
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@a北京@c科学出版社@d2021.05
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@a191页@c图@d24cm
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@a题名页题其余责任者: 杜雪成, 杨卫涛, 杜小智
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@a有书目 (第181-191页)
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@a本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。
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@a集成芯片@Aji cheng xin pian@x单粒子态@x研究
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@aTN430.3@v5
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@a贺朝会@Ahe zhao hui@4著
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@a杜雪成@Adu xue cheng@4著
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@a杨卫涛@Ayang wei tao@4著
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@a杜小智@Adu xiao zhi@4著
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@aCN@c20220906
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@a河南城建学院图书馆@dTN430.3@eH324
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| 纳米级系统芯片单粒子效应研究/贺朝会 ... [等] 著.-北京：科学出版社，2021.05 |
| 191页：图；24cm |
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| ISBN 978-7-03-067328-2：CNY98.00 |
| 本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。 |
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正题名：纳米级系统芯片单粒子效应研究
索取号：TN430.3/H324
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1574537
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215745371
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自科库301/301自科库 27排4列3层/
[索取号:TN430.3/H324]
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在馆
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