书目信息 |
| 题名： |
纳米级系统芯片单粒子效应研究
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| 作者： | 贺朝会 ， 杜雪成 ， 杨卫涛 ， 杜小智 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2021.05 |
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| 页数： | 191页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN430.3 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成芯片--ji cheng xin pian--单粒子态--研究 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-067328-2 | |
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| 304 | @a题名页题其余责任者: 杜雪成, 杨卫涛, 杜小智 | |
| 320 | @a有书目 (第181-191页) | |
| 330 | @a本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。 | |
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| 纳米级系统芯片单粒子效应研究/贺朝会 ... [等] 著.-北京：科学出版社，2021.05 |
| 191页：图；24cm |
| ISBN 978-7-03-067328-2：CNY98.00 |
| 本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。 |
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正题名：纳米级系统芯片单粒子效应研究
索取号：TN430.3/H324
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1574537 | 215745371 | 自科库301/301自科库 36排2列2层/ [索取号:TN430.3/H324] | 在馆 |