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000
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01128nam2 2200301 450
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001
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0110071656
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005
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20051214093737.76
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010
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@a7-302-08285-5@dCNY23.00
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100
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@a20041007d2004 km y0chiy0120 ea
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101
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0
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@achi
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102
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@aCN@b110000
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105
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@aa a 000yy
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200
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1
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@a电子电路测试与实验@Adian zi dian lu ce shi yu shi yan@f朱定华, 陈林, 吴建新编著@Fzhu ding hua,chen lin,wu jian xin bian zhu
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210
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@a北京@c清华大学出版社@d2004.04
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215
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@axii, 250页@c图@d26cm
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225
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2
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@a高等学校教材@i电子信息
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320
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@a有书目。
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330
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@a全书分为4章。第1章为模拟电路实验;第2章为数字逻辑电路实验;第3章为OrCAD在电子技术中的应用实验;第4章为在系统可编程技术实验。实验内容及其难易程度覆盖了不同层次的教学要求,各任课教师可灵活选用。
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410
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0
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@12001 @a电子信息
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410
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0
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@12001 @a高等学校教材
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606
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0
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@a电子电路@x测试技术@x高等学校@j教材
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606
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0
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@a电子电路@x实验@x高等学校@j教材
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690
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@aTN707@v4
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701
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0
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@a朱定华@Azhu ding hua@4编著
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0
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@a陈林@Achen lin@4编著
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@a吴建新@Awu jian xin@4编著
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801
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0
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@aCN@bQSSK@c20051214
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905
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@a10447@dTN707@eZ832
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| 电子电路测试与实验/朱定华, 陈林, 吴建新编著.-北京:清华大学出版社,2004.04 |
| xii, 250页:图;26cm.-(高等学校教材.电子信息) |
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| ISBN 7-302-08285-5:CNY23.00 |
| 全书分为4章。第1章为模拟电路实验;第2章为数字逻辑电路实验;第3章为OrCAD在电子技术中的应用实验;第4章为在系统可编程技术实验。实验内容及其难易程度覆盖了不同层次的教学要求,各任课教师可灵活选用。 |
| ● |
正题名:电子电路测试与实验
索取号:TN707/Z832
 
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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548444
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205484448
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自科二线400A/400A自科库 6排2列4层/
[索取号:TN707/Z832]
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在馆
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2
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548445
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205484457
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自科二线404/301自科库 22排2列4层/
[索取号:TN707/Z832]
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在馆
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3
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548446
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205484466
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自科库301/301自科库 22排2列3层/
[索取号:TN707/Z832]
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在馆
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4
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561547
|
205615477
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自科库301/301自科库 29排4列4层/
[索取号:TN707/Z832]
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在馆
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5
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561548
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205615486
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自科库301/301自科库 29排4列4层/
[索取号:TN707/Z832]
|
在馆
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|
6
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561549
|
205615495
|
自科二线400A/400A自科库 6排2列4层/
[索取号:TN707/Z832]
|
在馆
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