书目信息 |
| 题名： |
电子电路测试与实验
|
|
| 作者： | 朱定华 ， 陈林 ， 吴建新 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 清华大学出版社 2004.04 |
|
| 页数： | xii, 250页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 高等学校教材 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN707 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子电路--测试技术--高等学校--教材 , 电子电路--实验--高等学校--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-302-08285-5 | |
| 000 | 01128nam2 2200301 450 | |
| 001 | 0110071656 | |
| 005 | 20051214093737.76 | |
| 010 | @a7-302-08285-5@dCNY23.00 | |
| 100 | @a20041007d2004 km y0chiy0120 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aa a 000yy | |
| 200 | 1 | @a电子电路测试与实验@Adian zi dian lu ce shi yu shi yan@f朱定华, 陈林, 吴建新编著@Fzhu ding hua,chen lin,wu jian xin bian zhu |
| 210 | @a北京@c清华大学出版社@d2004.04 | |
| 215 | @axii, 250页@c图@d26cm | |
| 225 | 2 | @a高等学校教材@i电子信息 |
| 320 | @a有书目。 | |
| 330 | @a全书分为4章。第1章为模拟电路实验；第2章为数字逻辑电路实验；第3章为OrCAD在电子技术中的应用实验；第4章为在系统可编程技术实验。实验内容及其难易程度覆盖了不同层次的教学要求，各任课教师可灵活选用。 | |
| 410 | 0 | @12001 @a电子信息 |
| 410 | 0 | @12001 @a高等学校教材 |
| 606 | 0 | @a电子电路@x测试技术@x高等学校@j教材 |
| 606 | 0 | @a电子电路@x实验@x高等学校@j教材 |
| 690 | @aTN707@v4 | |
| 701 | 0 | @a朱定华@Azhu ding hua@4编著 |
| 701 | 0 | @a陈林@Achen lin@4编著 |
| 701 | 0 | @a吴建新@Awu jian xin@4编著 |
| 801 | 0 | @aCN@bQSSK@c20051214 |
| 905 | @a10447@dTN707@eZ832 | |
| 电子电路测试与实验/朱定华, 陈林, 吴建新编著.-北京：清华大学出版社，2004.04 |
| xii, 250页：图；26cm.-(高等学校教材.电子信息) |
| ISBN 7-302-08285-5：CNY23.00 |
| 全书分为4章。第1章为模拟电路实验；第2章为数字逻辑电路实验；第3章为OrCAD在电子技术中的应用实验；第4章为在系统可编程技术实验。实验内容及其难易程度覆盖了不同层次的教学要求，各任课教师可灵活选用。 |
| ● |
| 相关链接 |
|
|
|
正题名：电子电路测试与实验
索取号：TN707/Z832
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 548444 | 205484448 | 自科二线400A/400A自科库 6排2列4层/ [索取号:TN707/Z832] | 在馆 | |
| 2 | 548445 | 205484457 | 自科二线404/301自科库 22排2列4层/ [索取号:TN707/Z832] | 在馆 | |
| 3 | 548446 | 205484466 | 自科库301/301自科库 22排2列3层/ [索取号:TN707/Z832] | 在馆 | |
| 4 | 561547 | 205615477 | 自科库301/301自科库 22排2列4层/ [索取号:TN707/Z832] | 在馆 | |
| 5 | 561548 | 205615486 | 自科库301/301自科库 22排2列4层/ [索取号:TN707/Z832] | 在馆 | |
| 6 | 561549 | 205615495 | 自科二线400A/400A自科库 6排2列4层/ [索取号:TN707/Z832] | 在馆 |