书目信息 |
| 题名： |
材料现代分析测试方法
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| 作者： | 王富耻 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 北京理工大学出版社 2006.01 |
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| 页数： | 356页 | |
| 开本： | 23cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TB3 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 工程材料--gong cheng cai liao--分析方法--高等学校--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-5640-0484-3 | |
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| 330 | @a本书着重介绍了材料现代分析测试方法的基本原理、试验方法、仪器设备及其应用，内容包括：X射线衍射分析原理、X射线多晶衍射方法及应用、透射电子显微分析、扫描电子显微分析与电子探针、光电子能谱与俄歇电子能谱等。 | |
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| 材料现代分析测试方法/王富耻主编.-北京：北京理工大学出版社，2006.01 |
| 356页：图；23cm |
| 国防科工委"十五"规划教材,材料科学与工程 |
| ISBN 7-5640-0484-3：CNY37.00 |
| 本书着重介绍了材料现代分析测试方法的基本原理、试验方法、仪器设备及其应用，内容包括：X射线衍射分析原理、X射线多晶衍射方法及应用、透射电子显微分析、扫描电子显微分析与电子探针、光电子能谱与俄歇电子能谱等。 |
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| 相关链接 |
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正题名：材料现代分析测试方法
索取号：TB3/W170
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 587921 | 205879218 | 自科二线504/501自科库 9排1列3层/ [索取号:TB3/W170] | 在馆 | |
| 2 | 587922 | 205879227 | 自科库501/501自科库 9排1列3层/ [索取号:TB3/W170] | 在馆 | |
| 3 | 587923 | 205879236 | 自科库501/501自科库 9排1列3层/ [索取号:TB3/W170] | 在馆 |