书目信息 |
| 题名： |
电子元器件的故障原因及其对策
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| 作者： | 吉田弘之 著 ；杨启善 ， 刘风华 翻译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 中国标准出版社 2004 |
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| 页数： | 251页 | |
| 开本： | 21cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN67 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 元器件--检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-5066-3231-4 | |
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| 电子元器件的故障原因及其对策/(日) 吉田弘之著/杨启善, 刘风华等翻译.-北京：中国标准出版社，2004 |
| 251页：图；21cm |
| ISBN 7-5066-3231-4：CNY25.00 |
| 本书主要内容包括半导体、电容器、电阻器、印刷电路板、焊料、电源等电子元器件的故障原因及其分析对策。 |
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正题名：电子元器件的故障原因及其对策
索取号：TN67/J109
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 616386 | 206163863 | 期刊室512/301自科库 21排3列2层/ [索取号:TN67/J109] | 在馆 | |
| 2 | 616387 | 206163872 | 自科库301/301自科库 37排2列4层/ [索取号:TN67/J109] | 在馆 | |
| 3 | 616388 | 206163881 | 自科库301/301自科库 37排2列4层/ [索取号:TN67/J109] | 在馆 |