书目信息 |
题名: |
互换性与技术测量
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作者: | 魏斯亮 , 李时骏 主编 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 北京理工大学出版社 2007 |
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页数: | 250页 | |
开本: | 23cm | |
丛书名: | 21世纪高等院校应用型规划教材 | |
单 册: | ||
中图分类: | TG801 | |
科图分类: | ||
主题词: | 零部件--ling bu jian--互换性--高等学校--教材 , 零部件--ling bu jian--测量--技术--高等学校--教材 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-5640-1258-8 |
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互换性与技术测量/主编魏斯亮, 李时骏.-北京:北京理工大学出版社,2007 |
250页:图;23cm.-(21世纪高等院校应用型规划教材) |
使用对象:应用型高等院校机电类各专业师生,工程技术人员 |
ISBN 978-7-5640-1258-8:CNY26.00 |
本书内容包括:互换性与标准化,极限与配合,形状和位置公差,表面粗糙度,技术测量基础知识,普通螺纹的公差与配合,滚动轴承的公差与配合,键与花键的公差与配合,渐开线圆柱齿轮传动公差、尺寸链的计算等。 |
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正题名:互换性与技术测量
索取号:TG801/W596
 
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