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题名:
数字系统测试与可测试设计
    
 
作者: 阿布拉莫维奇 著 ;鲁巍 , 李华伟
分册:  
出版信息: 北京   机械工业出版社  2006.08
页数: 449页
开本: 26cm
丛书名:
单 册:
中图分类: TP271
科图分类:
主题词: 自动化系统
电子资源:
ISBN: 7-111-19237-0
 
 
 
 
 
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    数字系统测试与可测试设计/(美)阿布拉莫维奇著/李华伟,鲁巍.-北京:机械工业出版社,2006.08
    449页;26cm
    
    
    ISBN 7-111-19237-0:CNY56.00
    本书系统地介绍数字系统测试理论和方法,包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试性设计、内建自测试等内容。
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正题名:数字系统测试与可测试设计     索取号:TP271/A020         预约/预借

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1 1072608   210726080   自科库301/301自科库 41排3列4层/ [索取号:TP271/A020] 在馆    
2 1072609   210726099   自科库301/301自科库 41排3列4层/ [索取号:TP271/A020] 在馆    
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