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书名：
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数字系统测试与可测试设计
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作者：
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阿布拉莫维奇
著
；鲁巍
，
李华伟
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出版信息：
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北京
机械工业出版社
2006.08
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开本页数：
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26cm
449页
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丛书名：
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单 册：
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中图分类：
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TP271
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科图分类：
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主题词：
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自动化系统
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电子资源：
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ISBN：
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7-111-19237-0
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000
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| 数字系统测试与可测试设计/(美)阿布拉莫维奇著/李华伟，鲁巍.-北京：机械工业出版社，2006.08 |
| 449页；26cm |
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| ISBN 7-111-19237-0：CNY56.00 |
| 本书系统地介绍数字系统测试理论和方法，包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试性设计、内建自测试等内容。 |
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正题名：数字系统测试与可测试设计
索取号：TP271/A020
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1072608
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210726080
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自科库301/301自科库 41排3列4层/
[索取号:TP271/A020]
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在馆
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2
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1072609
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210726099
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自科库301/301自科库 41排3列4层/
[索取号:TP271/A020]
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在馆
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