书目信息 |
| 题名： |
可靠性物理
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| 作者： | 姚立真 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2004.8 |
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| 页数： | XXI,669页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 电子元器件质量与可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN6 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元件--dian zi yuan jian--可靠性 , 电子元件--dian zi yuan jian , 可靠性--ke kao xing | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-121-00209-4 | |
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| 330 | @a本书分为四个部分, 阐述了电子元器件失效分析中的理论基础, 包括有关原子物理学、材料学、化学、冶金学及元器件的基本工作原理, 介绍了与元器件失效相关的制造工艺和技术, 论述了失效的物理模型等。 | |
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| 可靠性物理/姚立真编著.-北京：电子工业出版社，2004.8 |
| XXI,669页：图；24cm.-(电子元器件质量与可靠性技术丛书/张鹤鸣主编) |
| ISBN 7-121-00209-4：CNY88.00 |
| 本书分为四个部分, 阐述了电子元器件失效分析中的理论基础, 包括有关原子物理学、材料学、化学、冶金学及元器件的基本工作原理, 介绍了与元器件失效相关的制造工艺和技术, 论述了失效的物理模型等。 |
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正题名：可靠性物理
索取号：TN6/Y360
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