000
01166nam0 2200265 450
001
CAL 0120131162637
010
@ a978-7-03-038824-7@ dCNY80.00
100
@ a20141022d2013 em y0chiy50 ea
101
1
@ achi@ ceng
102
@ aCN@ b110000
105
@ aak a 000yy
200
1
@ a可靠性物理与工程@ Ake kao xing wu li yu gong cheng@ e失效时间模型@ d= Reliability physics and engineering@ etime-to-failure modeling@ f(美) J.W. 麦克弗森著@ F(mei)J.W.mai ke fu sen zhu@ g秦飞 ... [等] 译@ zeng
210
@ a北京@ c科学出版社@ d2013.11
215
@ a245页@ c图@ d24cm
320
@ a有书目
330
@ a本书系统总结了电子器件、机械产品等的典型失效模式, 并在此基础上提出具有普适性的失效时间预测模型, 可以有效帮助从事产品设计、失效分析工作的工程师、技术人员深入理解失效的物理机理, 从而提高产品可靠性。
500
10
@ aReliability physics and engineering : time-to-failure modeling@ mChinese
517
1
@ a失效时间模型@ Ashi xiao shi jian mo xing
586
@ a
606
0
@ a失效物理@ Ashi xiao wu li@ x研究
690
@ aTB114.2@ v5
701
1
@ a麦克弗森@ Amai ke fu sen@ g(McPherson, J. W.)@ 4著
702
0
@ a秦飞@ Aqin fei@ 4译
801
0
@ aCN@ c20141022
905
@ a241430@ dTB114.2@ eM281@ f3
可靠性物理与工程：失效时间模型= Reliability physics and engineering：time-to-failure modeling/(美) J.W. 麦克弗森著/秦飞 ... [等] 译.-北京：科学出版社，2013.11 245页：图；24cm ISBN 978-7-03-038824-7：CNY80.00 本书系统总结了电子器件、机械产品等的典型失效模式, 并在此基础上提出具有普适性的失效时间预测模型, 可以有效帮助从事产品设计、失效分析工作的工程师、技术人员深入理解失效的物理机理, 从而提高产品可靠性。 ●
预约/预借
序号
登录号
条形码
馆藏地/架位号
状态
备注
1
1116239
211162392
自科库501/501自科库 2排1列3层/
[索取号:TB114.2/M281]
在馆
2
1116240
211162409
自科库501/501自科库 2排1列3层/
[索取号:TB114.2/M281]
在馆
3
1116241
211162418
期刊室512/501自科库 2排1列3层/
[索取号:TB114.2/M281]
在馆
