书目信息 |
题名: |
材料分析技术
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作者: | 张 , 库马尔 , 李 著 ;刘东平 译 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 科学出版社 2010.10 |
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页数: | 265页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TB3 | |
科图分类: | ||
主题词: | 工程材料--分析方法--研究 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-03-029105-9 |
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材料分析技术=Materials characterization techniques/(新) Sam Zhang,(新) Lin Li,(新)Ashok Kumar著/刘东平[等]译.-北京:科学出版社,2010.10 |
265页:图;24cm |
ISBN 978-7-03-029105-9:CNY50.00 |
本书共分11章,分别是接触角在表面分析中的应用、X射线光电子能谱和俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜等。 |
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正题名:材料分析技术
索取号:TB3/K850
 
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