书目信息 |
| 题名: |
材料分析技术
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| 作者: | 张 , 库马尔 , 李 著 ;刘东平 译 | |
| 分册: | ||
| 出版信息: | 北京 科学出版社 2010.10 |
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| 页数: | 265页 | |
| 开本: | 24cm | |
| 丛书名: | ||
| 单 册: | ||
| 中图分类: | TB3 | |
| 科图分类: | ||
| 主题词: | 工程材料--分析方法--研究 | |
| 电子资源: | ||
| ISBN: | 978-7-03-029105-9 | |
| 000 | 01008nam0 2200253 450 | |
| 001 | 005026830 | |
| 010 | @a978-7-03-029105-9@dCNY50.00 | |
| 100 | @a20120301d2010 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 1 | @achi@ceng |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aa z 000yy | |
| 200 | 1 | @a材料分析技术@Acai liao fen xi ji shu@dMaterials characterization techniques@f(新) Sam Zhang,(新) Lin Li,(新)Ashok Kumar著@F(xin)Sam Zhang,(xin)Lin Li,(xin)Ashok Kumar zhu@g刘东平[等]译@zeng |
| 210 | @a北京@c科学出版社@d2010.10 | |
| 215 | @a265页@c图@d24cm | |
| 330 | @a本书共分11章,分别是接触角在表面分析中的应用、X射线光电子能谱和俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜等。 | |
| 510 | 1 | @aMaterials characterization techniques@zeng |
| 606 | 0 | @a工程材料@x分析方法@x研究 |
| 690 | @aTB3@v5 | |
| 701 | 0 | @a张@Azhang@c(新)@c(Zhang, Sam)@4著 |
| 701 | 0 | @a库马尔@Aku ma er@c(新)@c(Kumar Ashok)@4著 |
| 701 | 0 | @a李@Ali@c(新)@c(Li, Lin)@4著 |
| 702 | 0 | @a刘东平@Aliu dong ping@4译 |
| 801 | 0 | @aCN@c20121226 |
| 905 | @dTB3@eK850@f2 | |
| 材料分析技术=Materials characterization techniques/(新) Sam Zhang,(新) Lin Li,(新)Ashok Kumar著/刘东平[等]译.-北京:科学出版社,2010.10 |
| 265页:图;24cm |
| ISBN 978-7-03-029105-9:CNY50.00 |
| 本书共分11章,分别是接触角在表面分析中的应用、X射线光电子能谱和俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜等。 |
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正题名:材料分析技术
索取号:TB3/K850
 
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