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001
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005
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010
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@a20100406d2010 em y0chiy0120 ea
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0
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@achi
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102
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@aCN@b120000
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@ar
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200
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1
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@a纳米检测技术@Ana mi jian ce ji shu@f胡小唐 ... [等] 编著@Fhu xiao tang...[deng]bian zhu
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210
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@a天津@c天津大学出版社@d2010.01
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215
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@a222页@c图@d26cm
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300
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@a普通高等教育“十一五”国家级规划教材
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304
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@a题名页题: 胡小唐, 傅星, 刘庆刚, 李艳宁, 胡晓东, 郭彤编著
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320
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@a有书目 (第217-222页)
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330
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@a本书主要内容：微纳检测技术基础，光学干涉测试技术，微纳形貌检测技术，扫描探针显微镜，扫描电子显微镜等。
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606
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0
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@a微纳材料@Awei na cai liao@x应用@x精密测量
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690
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@aTG806@v4
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701
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0
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@a胡小唐@Ahu xiao tang@4编著
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@a傅星@Afu xing@4编著
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@a刘庆刚@Aliu qing gang@4编著
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@aCN@bQSSK@c20100406
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905
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@b774124-26@dTG806@eH516@f3
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| 纳米检测技术/胡小唐 ... [等] 编著.-天津：天津大学出版社，2010.01 |
| 222页：图；26cm |
| 普通高等教育“十一五”国家级规划教材 |
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| ISBN 978-7-5618-2863-2：CNY26.00 |
| 本书主要内容：微纳检测技术基础，光学干涉测试技术，微纳形貌检测技术，扫描探针显微镜，扫描电子显微镜等。 |
| ● |
正题名：纳米检测技术
索取号：TG806/H516
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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774124
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207741247
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自科库501/501自科库 30排1列5层/
[索取号:TG806/H516]
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在馆
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2
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774125
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207741256
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自科库501/501自科库 30排1列5层/
[索取号:TG806/H516]
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在馆
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3
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774126
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207741265
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自科库501/501自科库 30排1列5层/
[索取号:TG806/H516]
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在馆
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