书目信息 |
| 题名： |
数字电路测试技术
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| 作者： | 李小颖 ， 李志勇 主编 ；蔡灏 编写 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 中国电力出版社 2019.02 |
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| 页数： | 72页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN79 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 数字电路--shu zi dian lu--电路测试--高等教育--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-5198-2681-9 | |
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| 数字电路测试技术/主编李志勇, 李小颖/编写蔡灏 ... [等].-北京：中国电力出版社，2019.02 |
| 72页：图；26cm |
| 使用对象：“十三五”普通高等教育规划教材 |
| ISBN 978-7-5198-2681-9：CNY20.00 |
| 本书共分为三部分, 第一部分为主要介绍仪器仪表的使用方法, 常用元器件的认识与测量。第二部分为数字电子技术验证型实验, 共有九个实验, 采用模拟电路板和模拟电子实验箱为工作平台进行实验。第三部分为综合型与设计型实验, 采用在面包板上插接电路来进行实验。 |
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正题名：数字电路测试技术
索取号：TN79/L330
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1436300 | 214363008 | 自科库301/ [索取号:TN79/L330] | 在馆 | |
| 2 | 1436301 | 214363017 | 自科库301/301自科库 102排6列1层/ [索取号:TN79/L330] | 在馆 |