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@a本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合, 内容涵盖半导体集成电路测试流程, 测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。
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| 集成电路测试指南/邬刚, 王瑞金, 包军林编著.-北京：机械工业出版社，2021.07 |
| XIII, 257页：图；24cm |
| 华章IT |
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| ISBN 978-7-111-68392-6：CNY99.00 |
| 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合, 内容涵盖半导体集成电路测试流程, 测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。 |
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正题名：集成电路测试指南
索取号：TN407/W724
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1529315
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215293153
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自科库301/301自科库 26排4列4层/
[索取号:TN407/W724]
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在馆
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