书目信息 |
| 题名： |
集成电路测试指南
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| 作者： | 邬刚 ， 王瑞金 ， 包军林 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 机械工业出版社 2021.07 |
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| 页数： | XIII, 257页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN407-62 ， TN407 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--ji cheng dian lu--电路测试--指南 | |
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| ISBN： | 978-7-111-68392-6 | |
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| 集成电路测试指南/邬刚, 王瑞金, 包军林编著.-北京：机械工业出版社，2021.07 |
| XIII, 257页：图；24cm |
| 华章IT |
| ISBN 978-7-111-68392-6：CNY99.00 |
| 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合, 内容涵盖半导体集成电路测试流程, 测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。 |
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正题名：集成电路测试指南
索取号：TN407/W724
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