书目信息 |
| 题名： |
集成电路测试指南
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| 作者： | 邬刚 ， 王瑞金 ， 包军林 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 机械工业出版社 2021.07 |
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| 页数： | XIII, 257页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN407-62 ， TN407 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--ji cheng dian lu--电路测试--指南 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-111-68392-6 | |
| 000 | 00954nam0 2200253 450 | |
| 001 | CAL 0120217200831 | |
| 010 | @a978-7-111-68392-6@dCNY99.00 | |
| 100 | @a20210926d2021 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aa z 000yy | |
| 200 | 1 | @a集成电路测试指南@Aji cheng dian lu ce shi zhi nan@f邬刚, 王瑞金, 包军林编著 |
| 210 | @a北京@c机械工业出版社@d2021.07 | |
| 215 | @aXIII, 257页@c图@d24cm | |
| 300 | @a华章IT | |
| 330 | @a本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合, 内容涵盖半导体集成电路测试流程, 测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。 | |
| 606 | 0 | @a集成电路@Aji cheng dian lu@x电路测试@j指南 |
| 690 | @aTN407-62@v5 | |
| 690 | @aTN407@v4 | |
| 701 | 0 | @a邬刚@Awu gang@4编著 |
| 701 | 0 | @a王瑞金@Awang rui jin@4编著 |
| 701 | 0 | @a包军林@Abao jun lin@4编著 |
| 801 | 0 | @aCN@c20210926 |
| 905 | @a河南城建学院图书馆@dTN407@eW724 | |
| 集成电路测试指南/邬刚, 王瑞金, 包军林编著.-北京：机械工业出版社，2021.07 |
| XIII, 257页：图；24cm |
| 华章IT |
| ISBN 978-7-111-68392-6：CNY99.00 |
| 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合, 内容涵盖半导体集成电路测试流程, 测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。 |
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正题名：集成电路测试指南
索取号：TN407/W724
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