书目信息 |
| 题名： |
材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析
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| 作者： | 周玉 ， 武高辉 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 哈尔滨 哈尔滨工业大学出版社 1998.08 |
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| 页数： | 283页 | |
| 开本： | 16开 | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TB302 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 工程材料 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-5603-1338-8 | |
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| 材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析/周玉,武高辉编著.-哈尔滨：哈尔滨工业大学出版社，1998.08 |
| 283页；16开 |
| ISBN 7-5603-1338-8：19.80元 |
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| 相关链接 |
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正题名：材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微
索取号：TB302/ZH.799
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 136963 | 201369633 | 自科二线504/504自科库 10排3列1层/ [索取号:TB302/ZH.799] | 在馆 | |
| 2 | 136964 | 201369642 | 自科二线504/504自科库 10排3列1层/ [索取号:TB302/ZH.799] | 在馆 | |
| 3 | 136965 | 201369651 | 自科库501/501自科库 12排2列2层/ [索取号:TB302/ZH.799] | 在馆 | |
| 4 | 136966 | 201369660 | 自科二线504/504自科库 10排3列1层/ [索取号:TB302/ZH.799] | 在馆 | |
| 5 | 136967 | 201369679 | 自科库501/501自科库 12排2列2层/ [索取号:TB302/ZH.799] | 在馆 |