书目信息 |
题名: |
材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析
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作者: | 周玉 , 武高辉 编著 | |
分册: | ||
出版信息: | 哈尔滨 哈尔滨工业大学出版社 1998.08 |
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页数: | 283页 | |
开本: | 16开 | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TB302 | |
科图分类: | ||
主题词: | 工程材料 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 7-5603-1338-8 |
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材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析/周玉,武高辉编著.-哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,1998.08 |
283页;16开 |
ISBN 7-5603-1338-8:19.80元 |
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正题名:材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微
索取号:TB302/ZH.799
 
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2 | 136964 | 201369642 | 自科二线504/504自科库 10排3列1层/ [索取号:TB302/ZH.799] | 在馆 | |
3 | 136965 | 201369651 | 自科库501/501自科库 12排2列2层/ [索取号:TB302/ZH.799] | 在馆 | |
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