书目信息 |
| 题名： |
电子元器件检验技术
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| 作者： | 王晓晗 ， 罗宏伟 编著 | |
| 分册： | 试验部分 | |
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2019.02 |
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| 页数： | XI, 369页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN606 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元器件--dian zi yuan qi jian--检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-33484-9 | |
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| 电子元器件检验技术.试验部分/王晓晗, 罗宏伟编著.-北京：电子工业出版社，2019.02 |
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| 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 以及不同类别电子元器件的检验技术等。 |
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正题名：电子元器件检验技术
索取号：TN606/W382
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| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
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| 2 | 1414842 | 214148420 | 自科库301/301自科库 28排4列3层/ [索取号:TN606/W382] | 在馆 |