书目信息 |
| 题名： |
电子元器件检验技术
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| 作者： | 王晓晗 ， 罗宏伟 编著 | |
| 分册： | 试验部分 | |
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2019.02 |
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| 页数： | XI, 369页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN606 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元器件--dian zi yuan qi jian--检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-33484-9 | |
| 000 | 01134nam 2200289 450 | |
| 001 | CAL 0120182610612 | |
| 010 | @a978-7-121-33484-9@dCNY98.00 | |
| 100 | @a20190114d2019 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aak a 000yy | |
| 106 | @ar | |
| 200 | 1 | @a电子元器件检验技术@Adian zi yuan qi jian jian yan ji shu@i试验部分@f王晓晗, 罗宏伟编著@Fwang xiao han , luo hong wei bian zhu |
| 210 | @a北京@c电子工业出版社@d2019.02 | |
| 215 | @aXI, 369页@c图@d26cm | |
| 225 | 2 | @a可靠性技术丛书@Ake kao xing ji shu cong shu |
| 320 | @a有书目 | |
| 330 | @a本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 以及不同类别电子元器件的检验技术等。 | |
| 410 | 0 | @12001 @a可靠性技术丛书 |
| 517 | 1 | @a试验部分@Ashi yan bu fen |
| 586 | @a | |
| 606 | 0 | @a电子元器件@Adian zi yuan qi jian@x检测 |
| 690 | @aTN606@v5 | |
| 701 | 0 | @a王晓晗@Awang xiao han@4编著 |
| 701 | 0 | @a罗宏伟@Aluo hong wei@4编著 |
| 801 | 0 | @aCN@c20190114 |
| 905 | @a河南城建学院图书馆@dTN606@eW382@f2 | |
| 电子元器件检验技术.试验部分/王晓晗, 罗宏伟编著.-北京：电子工业出版社，2019.02 |
| XI, 369页：图；26cm.-(可靠性技术丛书) |
| ISBN 978-7-121-33484-9：CNY98.00 |
| 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 以及不同类别电子元器件的检验技术等。 |
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正题名：电子元器件检验技术
索取号：TN606/W382
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| 1 | 1414841 | 214148411 | 自科库301/301自科库 21排3列1层/ [索取号:TN606/W382] | 在馆 | |
| 2 | 1414842 | 214148420 | 自科库301/301自科库 21排3列1层/ [索取号:TN606/W382] | 在馆 |