|
000
|
01134nam 2200277 450
|
|
001
|
0100000375
|
|
010
|
|
@a978-7-03-019462-6@b精装@dCNY98.00
|
|
100
|
|
@a20071015d2007 ekmy0chiy0121 ea
|
|
101
|
0
|
@achi
|
|
102
|
|
@aCN@b110000
|
|
105
|
|
@aak a 000yy
|
|
106
|
|
@ar
|
|
200
|
1
|
@a半导体的检测与分析@Aban dao ti de jian ce yu fen xi@f许振嘉主编
|
|
205
|
|
@a第2版
|
|
210
|
|
@a北京@c科学出版社@d2007
|
|
215
|
|
@a635页@c图@d24cm
|
|
225
|
2
|
@a半导体科学与技术丛书@Aban dao ti ke xue yu ji shu cong shu
|
|
320
|
|
@a有书目(第634-635页)
|
|
330
|
|
@a本书主要内容包括：高分辨X射线衍射，光学性质检测分析，表面和薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体研究中的应用，半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料(第三代半导体和低维结构半导体材料)物理表征的实验技术和具体应用成果。
|
|
333
|
|
@a半导体相关专业科研工作者，大学研究生、本科生
|
|
410
|
0
|
@12001 @a半导体科学与技术丛书
|
|
606
|
0
|
@a半导体材料@Aban dao ti cai liao@x参数测试
|
|
690
|
|
@aTN304.07@v4
|
|
701
|
0
|
@a许振嘉@Axu zhen jia@4主编
|
|
801
|
0
|
@aCN@c20071206
|
|
905
|
|
@b20667296-98@dTN304.07@eX912=2@fTN304.07/X912=2
|
|
|
|
|
| |
| 半导体的检测与分析/许振嘉主编.-第2版.-北京：科学出版社，2007 |
| 635页：图；24cm.-(半导体科学与技术丛书) |
| 使用对象：半导体相关专业科研工作者，大学研究生、本科生 |
| |
| ISBN 978-7-03-019462-6(精装)：CNY98.00 |
| 本书主要内容包括：高分辨X射线衍射，光学性质检测分析，表面和薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体研究中的应用，半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料(第三代半导体和低维结构半导体材料)物理表征的实验技术和具体应用成果。 |
| ● |
正题名：半导体的检测与分析
索取号：TN304.07/X912=2
预约/预借
| 序号
|
登录号
|
条形码
|
馆藏地/架位号
|
状态
|
备注
|
|
1
|
667296
|
206672965
|
自科库301/301自科库 19排2列2层/
[索取号:TN304.07/X912=2]
|
在馆
|
|
|
2
|
667297
|
206672974
|
自科库301/301自科库 25排4列5层/
[索取号:TN304.07/X912=2]
|
在馆
|
|
|
3
|
667298
|
206672983
|
自科库301/301自科库 25排4列5层/
[索取号:TN304.07/X912=2]
|
在馆
|
|
