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书目信息

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题名:
半导体的检测与分析
    
 
作者: 许振嘉 主编
分册:  
出版信息: 北京   科学出版社  2007
页数: 635页
开本: 24cm
丛书名: 半导体科学与技术丛书
单 册:
中图分类: TN304.07
科图分类:
主题词: 半导体材料--ban dao ti cai liao--参数测试
电子资源:
ISBN: 978-7-03-019462-6
 
 
 
 
 
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    半导体的检测与分析/许振嘉主编.-第2版.-北京:科学出版社,2007
    635页:图;24cm.-(半导体科学与技术丛书)
    使用对象:半导体相关专业科研工作者,大学研究生、本科生
    
    ISBN 978-7-03-019462-6(精装):CNY98.00
    本书主要内容包括:高分辨X射线衍射,光学性质检测分析,表面和薄膜成分分析,扫描探针显微学在半导体中的运用,透射电子显微学及其在半导体研究中的应用,半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料(第三代半导体和低维结构半导体材料)物理表征的实验技术和具体应用成果。
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正题名:半导体的检测与分析     索取号:TN304.07/X912=2         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 667296   206672965   自科库301/301自科库 19排2列2层/ [索取号:TN304.07/X912=2] 在馆    
2 667297   206672974   自科库301/301自科库 34排2列3层/ [索取号:TN304.07/X912=2] 在馆    
3 667298   206672983   自科库301/301自科库 34排2列3层/ [索取号:TN304.07/X912=2] 在馆    
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