书目信息 |
| 题名： |
半导体的检测与分析
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| 作者： | 许振嘉 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2007 |
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| 页数： | 635页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 半导体科学与技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN304.07 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 半导体材料--ban dao ti cai liao--参数测试 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-019462-6 | |
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| 330 | @a本书主要内容包括：高分辨X射线衍射，光学性质检测分析，表面和薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体研究中的应用，半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料(第三代半导体和低维结构半导体材料)物理表征的实验技术和具体应用成果。 | |
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| 半导体的检测与分析/许振嘉主编.-第2版.-北京：科学出版社，2007 |
| 635页：图；24cm.-(半导体科学与技术丛书) |
| 使用对象：半导体相关专业科研工作者，大学研究生、本科生 |
| ISBN 978-7-03-019462-6(精装)：CNY98.00 |
| 本书主要内容包括：高分辨X射线衍射，光学性质检测分析，表面和薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体研究中的应用，半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料(第三代半导体和低维结构半导体材料)物理表征的实验技术和具体应用成果。 |
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| 相关链接 |
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正题名：半导体的检测与分析
索取号：TN304.07/X912=2
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 667296 | 206672965 | 自科库301/301自科库 19排2列2层/ [索取号:TN304.07/X912=2] | 在馆 | |
| 2 | 667297 | 206672974 | 自科库301/301自科库 19排3列2层/ [索取号:TN304.07/X912=2] | 在馆 | |
| 3 | 667298 | 206672983 | 自科库301/301自科库 19排2列2层/ [索取号:TN304.07/X912=2] | 在馆 |