书目信息 |
| 题名： |
光电检测技术
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| 作者： | 雷玉堂 ， 王庆有 ， 何加铭 ， 张伟风 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 中国计量出版社 1997.05 |
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| 页数： | 281页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TB96 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 光电检测--技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-5026-0920-2 | |
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| 330 | @a本书系统、全面地介绍了光电检测技术基础，光电检测、热电检测、发光与耦合、光电成像等器件的原理、结构、特性，光电检测电路与微机接口，光电变换检测技术与方法以及光电检测技术的典型应用等。 | |
| 333 | @a本书可作为高等院校光学技术与光电仪器、检测技术与自动化技术、精密仪器、自动控制、应用光学、应用物理、信息工程与电子技术等专业的教材，亦可供从事光电工程、光学仪器、产品质量控制与检测等科研和工程技术人员参考。 | |
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| 光电检测技术/雷玉堂 … [等] 编著.-北京：中国计量出版社，1997.05 |
| 281页：图；26cm |
| 高等学校适用教材.-使用对象：本书可作为高等院校光学技术与光电仪器、检测技术与自动化技术、精密仪器、自动控制、应用光学、应用物理、信息工程与电子技术等专业的教材，亦可供从事光电工程、光学仪器、产品质量控制与检测等科研和工程技术人员参考。 |
| ISBN 7-5026-0920-2：CNY25.00 |
| 本书系统、全面地介绍了光电检测技术基础，光电检测、热电检测、发光与耦合、光电成像等器件的原理、结构、特性，光电检测电路与微机接口，光电变换检测技术与方法以及光电检测技术的典型应用等。 |
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| 相关链接 |
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正题名：光电检测技术
索取号：TB96/L825
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1030058 | 210300583 | 自科二线504/504自科库 8排4列3层/ [索取号:TB96/L825] | 在馆 | |
| 2 | 1030059 | 210300592 | 自科库501/501自科库 20排3列5层/ [索取号:TB96/L825] | 在馆 | |
| 3 | 1030060 | 210300609 | 自科库501/501自科库 20排3列5层/ [索取号:TB96/L825] | 在馆 |