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@ a模式识别@ Amo shi shi bie@ e数据质量视角@ f(波) 伍拉迪斯罗·霍曼达, (加) 维托德·派提兹著@ d= Pattern recognition@ ea quality of data perspective@ fWladyslaw Homenda, Witold Pedrycz@ g张轶译@ zeng
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@ a本书分为两大部分: “基础知识”和“高级主题: 粒度计算框架”。第一部分探讨模式识别—拒绝问题的原理, 涉及特征空间构成、基本分类器设计, 以及关于模式识别—拒绝问题的实例研究、任务评估、架构评估等。第二部分集中讨论信息粒和信息粒度的概念, 涉及信息粒基础知识、信息粒设计和聚类, 以及数据质量的量化和处理等。
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模式识别：数据质量视角/(波) 伍拉迪斯罗·霍曼达, (加) 维托德·派提兹著= Pattern recognition：a quality of data perspective/Wladyslaw Homenda, Witold Pedrycz/张轶译.-北京：机械工业出版社，2020.04 X, 232页：图；26cm.-(智能科学与技术丛书) ISBN 978-7-111-64675-4：CNY79.00 本书分为两大部分: “基础知识”和“高级主题: 粒度计算框架”。第一部分探讨模式识别—拒绝问题的原理, 涉及特征空间构成、基本分类器设计, 以及关于模式识别—拒绝问题的实例研究、任务评估、架构评估等。第二部分集中讨论信息粒和信息粒度的概念, 涉及信息粒基础知识、信息粒设计和聚类, 以及数据质量的量化和处理等。 ●
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序号
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馆藏地/架位号
状态
备注
1
1480141
214801419
自科库401/401自科库 48排7列2层/
[索取号:O235/H970]
在馆
2
1480142
214801428
自科库401/401自科库 48排7列2层/
[索取号:O235/H970]
在馆
