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@a工程纳米测量基础@Agong cheng na mi ce liang ji chu@d= Fundamental principles of engineering nanometrology@f(英) 理查德·利奇著@g袁道成 ... [等] 译@zeng
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205
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@a本书从先进制造技术质量控制角度, 介绍了测量基本知识, 精密测量仪器设计原则, 长度测量溯源, 位移测量, 表面形貌测量仪器, 扫描探针和粒子束显微, 表面形貌特征描述, 坐标测量, 质量和力测量, 测量国际单位及其在NPL实现等。
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@a河南城建学院图书馆@dTB22@eL367=2@f2
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| 工程纳米测量基础= Fundamental principles of engineering nanometrology/(英) 理查德·利奇著/袁道成 ... [等] 译.-第2版.-杭州：浙江大学出版社，2017.12 |
| 300页：图；24cm |
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| ISBN 978-7-308-17563-0：CNY98.00 |
| 本书从先进制造技术质量控制角度, 介绍了测量基本知识, 精密测量仪器设计原则, 长度测量溯源, 位移测量, 表面形貌测量仪器, 扫描探针和粒子束显微, 表面形貌特征描述, 坐标测量, 质量和力测量, 测量国际单位及其在NPL实现等。 |
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正题名：工程纳米测量基础
索取号：TB22/L367=2
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1369409
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213694091
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自科库501/501自科库 5排2列5层/
[索取号:TB22/L367=2]
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在馆
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2
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1369410
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213694108
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自科库501/501自科库 5排2列5层/
[索取号:TB22/L367=2]
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在馆
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