书目信息 |
| 题名: |
J2EE性能测试
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| 作者: | 扎德罗兹尼 著 | |
| 分册: | ||
| 出版信息: | 北京 电子工业出版社 2003.04 |
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| 页数: | 342页 | |
| 开本: | 26cm | |
| 丛书名: | ||
| 单 册: | ||
| 中图分类: | TP312 | |
| 科图分类: | ||
| 主题词: | 软件 | |
| 电子资源: | ||
| ISBN: | 7-5053-8598-4 | |
| 000 | 00568nam0 2200193 45 | |
| 001 | 0456672452 | |
| 005 | 2004092115443217 | |
| 010 | @a7-5053-8598-4@dCNY 39.00 | |
| 100 | @a20040921d2003 km y0chiy0120 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 200 | 1 | @aJ2EE性能测试@AJ2EE Xing Neng Ce Shi@f(美)扎德罗兹尼等著@F(Mei)Zha De Luo Zi Ni Deng Zhu |
| 210 | @a北京@c电子工业出版社@d2003.04 | |
| 215 | @a342页@d26cm | |
| 606 | 0 | @a软件 |
| 690 | @aTP312@v4 | |
| 701 | 0 | @a扎德罗兹尼@AZha De Luo Zi Ni@4著 |
| 801 | 0 | @aCN@bPFT@c20040921 |
| 905 | @a平顶山工学院@dTP312@eZ035 | |
| J2EE性能测试/(美)扎德罗兹尼等著.-北京:电子工业出版社,2003.04 |
| 342页;26cm |
| ISBN 7-5053-8598-4:CNY 39.00 |
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| 相关链接 |
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正题名:J2EE性能测试
索取号:TP312/Z035
 
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 395167 | 203951679 | 自科库301/301自科库 53排6列1层/ [索取号:TP312/Z035] | 在馆 | |
| 2 | 395168 | 203951688 | 自科库301/404自科库 9排3列6层/ [索取号:TP312/Z035] | 在馆 | |
| 3 | 395169 | 203951697 | 自科库301/301自科库 53排6列1层/ [索取号:TP312/Z035] | 在馆 |