书目信息 |
| 题名： |
公差配合与测量技术
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| 作者： | 杨光龙 ， 金文中 ， 陈佳彬 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2020.01 |
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| 页数： | 262页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TG801 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 公差--gong cha--配合--高等职业教育--教材 , 技术测量--ji shu ce liang--高等职业教育--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-26744-4 | |
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| 330 | @a本书系统地介绍了公差配合与测量技术方面的基础知识, 全书共分七个项目, 并以任务形式进行讲解, 形式新颖, 通俗易懂, 实用性强。内容主要包括: 前言, 极限配合与测量技术入门 ; 测量零件线性尺寸 ; 形状及位置公差及其检测 ; 表面粗糙度及检测 ; 测量角度、锥度 ; 典型零件的测量 ; 零件精密测量。 | |
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| 公差配合与测量技术/主编杨光龙, 金文中, 陈佳彬.-北京：电子工业出版社，2020.01 |
| 262页：图；26cm |
| 使用对象：高等职业教育“十三五”规划教材 |
| ISBN 978-7-121-26744-4：CNY42.80 |
| 本书系统地介绍了公差配合与测量技术方面的基础知识, 全书共分七个项目, 并以任务形式进行讲解, 形式新颖, 通俗易懂, 实用性强。内容主要包括: 前言, 极限配合与测量技术入门 ; 测量零件线性尺寸 ; 形状及位置公差及其检测 ; 表面粗糙度及检测 ; 测量角度、锥度 ; 典型零件的测量 ; 零件精密测量。 |
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正题名：公差配合与测量技术
索取号：TG801/Y183
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| 1 | 1489776 | 214897762 | 自科库501/501自科库 30排1列4层/ [索取号:TG801/Y183] | 在馆 | |
| 2 | 1489777 | 214897771 | 自科库501/501自科库 30排1列4层/ [索取号:TG801/Y183] | 在馆 |