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000
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001
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CAL 007647619
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@a电子元器件失效分析技术@Adian zi yuan qi jian shi xiao fen xi ji shu@f恩云飞, 来萍, 李少平编著@g编写组人员师谦 ... [等]
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@a北京@c电子工业出版社@d2015.10
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@aXIX, 453页@c图@d24cm
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@a可靠性技术丛书@Ake kao xing ji shu cong shu
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@a有书目
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@a本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容, 使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念, 技术和设备、方法和流程, 指导开展相关的失效分析工作。
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606
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@a河南城建学院图书馆@dTN606@eE055@f2
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| 电子元器件失效分析技术/恩云飞, 来萍, 李少平编著/编写组人员师谦 ... [等].-北京：电子工业出版社，2015.10 |
| XIX, 453页：图；24cm.-(可靠性技术丛书) |
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| ISBN 978-7-121-27230-1：CNY98.00 |
| 本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容, 使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念, 技术和设备、方法和流程, 指导开展相关的失效分析工作。 |
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正题名：电子元器件失效分析技术
索取号：TN606/E055
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1258997
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212589974
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自科库301/301自科库 28排4列2层/
[索取号:TN606/E055]
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在馆
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2
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1258998
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212589983
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自科库301/301自科库 28排4列2层/
[索取号:TN606/E055]
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在馆
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