书目信息 |
| 题名： |
电子元器件失效分析技术
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| 作者： | 来萍 ， 李少平 ， 恩云飞 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2015.10 |
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| 页数： | XIX, 453页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN606 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元件--dian zi yuan jian--失效分析 , 电子器件--dian zi qi jian--失效分析 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-27230-1 | |
| 000 | 01132nam 2200277 450 | |
| 001 | CAL 007647619 | |
| 010 | @a978-7-121-27230-1@dCNY98.00 | |
| 100 | @a20160615d2015 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aak a 000yy | |
| 200 | 1 | @a电子元器件失效分析技术@Adian zi yuan qi jian shi xiao fen xi ji shu@f恩云飞, 来萍, 李少平编著@g编写组人员师谦 ... [等] |
| 210 | @a北京@c电子工业出版社@d2015.10 | |
| 215 | @aXIX, 453页@c图@d24cm | |
| 225 | 2 | @a可靠性技术丛书@Ake kao xing ji shu cong shu |
| 320 | @a有书目 | |
| 330 | @a本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容, 使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念, 技术和设备、方法和流程, 指导开展相关的失效分析工作。 | |
| 410 | 0 | @12001 @a可靠性技术丛书 |
| 606 | 0 | @a电子元件@Adian zi yuan jian@x失效分析 |
| 606 | 0 | @a电子器件@Adian zi qi jian@x失效分析 |
| 690 | @aTN606@v5 | |
| 701 | 0 | @a来萍@Alai ping@4编著 |
| 701 | 0 | @a李少平@Ali shao ping@4编著 |
| 701 | 0 | @a恩云飞@Aen yun fei@4编著 |
| 801 | 0 | @aCN@c20160615 |
| 905 | @a河南城建学院图书馆@dTN606@eE055@f2 | |
| 电子元器件失效分析技术/恩云飞, 来萍, 李少平编著/编写组人员师谦 ... [等].-北京：电子工业出版社，2015.10 |
| XIX, 453页：图；24cm.-(可靠性技术丛书) |
| ISBN 978-7-121-27230-1：CNY98.00 |
| 本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容, 使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念, 技术和设备、方法和流程, 指导开展相关的失效分析工作。 |
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正题名：电子元器件失效分析技术
索取号：TN606/E055
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| 1 | 1258997 | 212589974 | 自科库301/301自科库 21排3列1层/ [索取号:TN606/E055] | 在馆 | |
| 2 | 1258998 | 212589983 | 自科库301/301自科库 21排3列1层/ [索取号:TN606/E055] | 在馆 |