书目信息 |
| 题名： |
Characterization in silicon processing
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| 作者： | 埃文斯 ， 布伦德尔 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 哈尔滨 哈尔滨工业大学出版社 2014.01 |
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| 页数： | xv, 240页 | |
| 开本： | 23cm | |
| 丛书名： | 材料表征原版系列丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN305 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 硅--gui--半导体工艺--研究--英文 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-5603-4280-1 | |
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| Characterization in silicon processing= 硅加工中的表征/C. Richard Brundle, Charles A. Evans, Jr.-哈尔滨：哈尔滨工业大学出版社，2014.01 |
| xv, 240页：图；23cm.-(材料表征原版系列丛书) |
| ISBN 978-7-5603-4280-1：CNY88.00 |
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| 相关链接 |
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正题名：Characterization in silicon processing
索取号：TN305/C111
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1123660 | 211236606 | 自科库301/404自科库 9排2列3层/ [索取号:TN305/C111] | 在馆 | |
| 2 | 1123661 | 211236615 | 自科库301/301自科库 26排1列1层/ [索取号:TN305/C111] | 在馆 | |
| 3 | 1123662 | 211236624 | 自科库301/301自科库 26排1列1层/ [索取号:TN305/C111] | 在馆 |