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000
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01299nam 2200265 450
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001
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2260497384
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@a978-7-121-43802-8@dCNY100.00
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@a20220817d2022 em y0chiy50 ea
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@achi
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@aCN@b110000
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@ar
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@a集成电路测试基础@Aji cheng dian lu ce shi ji chu@f佛山市联动科技股份有限公司编著@g谷颜秋主编
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@a北京@c电子工业出版社@d2022.07
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@aX, 320页@c图@d26cm
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@a集成电路产业知识赋能工程系列丛书@Aji cheng dian lu chan ye zhi shi fu neng gong cheng xi lie cong shu
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320
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@a有书目 (第319-320页)
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@a本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章, 主要内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响, 自动测试设备 (ATE) V/I源的基本原理和实际应用限制, 一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法, 测试数据分析的常用方法, 以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍, 并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。
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410
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@12001 @a集成电路产业知识赋能工程系列丛书
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606
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@a集成电路@Aji cheng dian lu@x电路测试
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@aTN407@v5
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701
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0
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@a谷颜秋@Agu yan qiu@4主编
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@a佛山市联动科技股份公司@Afo shan shi lian dong ke ji gu fen gong si@4编著
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@aCN@c20220906
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905
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@a河南城建学院图书馆@dTN407@eG465
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| 集成电路测试基础/佛山市联动科技股份有限公司编著/谷颜秋主编.-北京：电子工业出版社，2022.07 |
| X, 320页：图；26cm.-(集成电路产业知识赋能工程系列丛书) |
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| ISBN 978-7-121-43802-8：CNY100.00 |
| 本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章, 主要内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响, 自动测试设备 (ATE) V/I源的基本原理和实际应用限制, 一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法, 测试数据分析的常用方法, 以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍, 并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。 |
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正题名：集成电路测试基础
索取号：TN407/G465
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1573504
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215735042
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自科库301/301自科库 26排4列4层/
[索取号:TN407/G465]
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在馆
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