书目信息 |
| 题名： |
集成电路测试基础
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| 作者： | 谷颜秋 主编 ；佛山市联动科技股份公司 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2022.07 |
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| 页数： | X, 320页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 集成电路产业知识赋能工程系列丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN407 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--ji cheng dian lu--电路测试 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-43802-8 | |
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| 330 | @a本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章, 主要内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响, 自动测试设备 (ATE) V/I源的基本原理和实际应用限制, 一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法, 测试数据分析的常用方法, 以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍, 并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。 | |
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| 集成电路测试基础/佛山市联动科技股份有限公司编著/谷颜秋主编.-北京：电子工业出版社，2022.07 |
| X, 320页：图；26cm.-(集成电路产业知识赋能工程系列丛书) |
| ISBN 978-7-121-43802-8：CNY100.00 |
| 本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章, 主要内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响, 自动测试设备 (ATE) V/I源的基本原理和实际应用限制, 一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法, 测试数据分析的常用方法, 以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍, 并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。 |
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正题名：集成电路测试基础
索取号：TN407/G465
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