书目信息 |
题名: |
数字集成电路容错设计
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作者: | 李晓维 著 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 科学出版社 2011.04 |
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页数: | 10,433页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TN431.2 | |
科图分类: | ||
主题词: | 数字集成电路--电路设计 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-03-030576-3 |
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数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误/李晓维[等]著.-北京:科学出版社,2011.04 |
10,433页:图;24cm |
中国科学院科学出版基金资助出版 |
ISBN 978-7-03-030576-3(精装):CNY68.00 |
本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面:容缺陷(和故障)、容参数偏差以及容软错误;包括3S技术(自测试、自诊断、自修复)的基本原理。 |
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正题名:数字集成电路容错设计
索取号:TN431.2/L297
 
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