书目信息 |
题名: |
全面的功能验证
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作者: | 威立 著 ;?乐翔 , 沈?Ashen 译 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 机械工业出版社 2009.02 |
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页数: | 487页 | |
开本: | 25cm | |
丛书名: | 国际信息工程先进技术译丛 | |
单 册: | ||
中图分类: | TN402 | |
科图分类: | ||
主题词: | 集成电路 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-111-29641-6 |
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全面的功能验证:完整的工业流程/(美)威立著/沈海华,乐翔译.-北京:机械工业出版社,2009.02 |
487页;25cm.-(国际信息工程先进技术译丛) |
ISBN 978-7-111-29641-6:CNY98.00 |
本书介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念,以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元,关注了基于模拟的验证方法和形式验证方法。研究了回归测试和“逃逸”错误分析等。 |
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正题名:全面的功能验证
索取号:TN402/W498
 
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