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书目信息

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题名:
自动测试及接口技术
    
 
作者: 陈长龄 , 田书林 , 师奕兵 编著
分册:  
出版信息: 北京   机械工业出版社  2005.02
页数: 267页
开本: 26cm
丛书名: 普通高等教育测控信息技术规划教材
单 册:
中图分类: TP274
科图分类:
主题词: 自动检测系统--zi dong jian ce xi tong--高等学校--教材
电子资源:
ISBN: 7-111-15779-6
 
 
 
 
 
000 01234nam 2200289 450
001 012006438249
005 20060522093230.57
010    @a7-111-15779-6@dCNY25.00
100    @a20060504d2005 km y0chiy0120 ea
101 0  @achi
102    @aCN@b110000
105    @aa z 000yy
200 1  @a自动测试及接口技术@Azi dong ce shi ji jie kou ji shu@d= Automated test system & interface technology@f陈长龄 … [等] 编著@Fchen chang ling…[deng]bian zhu@zeng
210    @a北京@c机械工业出版社@d2005.02
215    @a267页@c图@d26cm
225 2  @a普通高等教育测控信息技术规划教材@Apu tong gao deng jiao yu ce kong xin xi ji shu gui hua jiao cai
304    @a本书编著还有:田书林, 师奕兵, 黄建国。
330    @a本书主要讲述了现代自动测试系统体系结构模型和发展概况,程控电子测试设备器件消息的消息交换控制协议、公用命令和特定的标准命令等。
410  0 @12001 @a普通高等教育测控信息技术规划教材
510 1  @aAutomated test system & interface technology@zeng
606 0  @a自动检测系统@Azi dong jian ce xi tong@x高等学校@j教材
690    @aTP274@v4
701  0 @a陈长龄@Achen chang ling@4编著
701  0 @a田书林@Atian shu lin@4编著
701  0 @a师奕兵@Ashi yi bing@4编著
801  0 @aCN@bQSSK@c20060522
905    @a10447@dTP274@eC383
    
    自动测试及接口技术= Automated test system & interface technology/陈长龄 … [等] 编著.-北京:机械工业出版社,2005.02
    267页:图;26cm.-(普通高等教育测控信息技术规划教材)
    
    
    ISBN 7-111-15779-6:CNY25.00
    本书主要讲述了现代自动测试系统体系结构模型和发展概况,程控电子测试设备器件消息的消息交换控制协议、公用命令和特定的标准命令等。
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正题名:自动测试及接口技术     索取号:TP274/C383         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 559879   205598799   自科库301/301自科库 42排1列4层/ [索取号:TP274/C383] 在馆    
2 559880   205598806   自科二线400A/400A自科库 5排3列2层/ [索取号:TP274/C383] 在馆    
3 559881   205598815   自科库301/301自科库 42排1列4层/ [索取号:TP274/C383] 在馆    
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