书目信息 |
| 题名： |
集成电路系统设计、验证与测试
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| 作者： | 拉瓦尼奥 ， 马丁 ， 谢弗 著 ；陈力颖 ， 王猛 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2008.06 |
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| 页数： | 14,475页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN402 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--电路设计 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-021490-4 | |
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| 330 | @a本书涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等内容。 | |
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| 集成电路系统设计、验证与测试/(美) Louis Scheffer,(美) Luciano Lavagno,(美)Grant Martin著/陈力颖，王猛译.-北京：科学出版社，2008.06 |
| 14,475页：图；26cm |
| 集成电路EDA技术 实用技术 |
| ISBN 978-7-03-021490-4：CNY62.00 |
| 本书涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等内容。 |
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正题名：集成电路系统设计、验证与测试
索取号：TN402/1
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| 1 | 1207457 | 212074574 | 自科库301/301自科库 35排1列3层/ [索取号:TN402/1] | 在馆 | |
| 2 | 1207458 | 212074583 | 自科库301/301自科库 35排1列3层/ [索取号:TN402/1] | 在馆 |