书名：
集成电路系统设计、验证与测试
作者：
拉瓦尼奥
，
马丁
，
谢弗
著
；陈力颖
，
王猛
译
出版信息：
北京
科学出版社
2008.06
开本页数：
26cm
14,475页
丛书名：
单 册：
中图分类：
TN402
科图分类：
主题词：
集成电路--电路设计
电子资源：
ISBN：
978-7-03-021490-4
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集成电路系统设计、验证与测试/(美) Louis Scheffer,(美) Luciano Lavagno,(美)Grant Martin著/陈力颖，王猛译.-北京：科学出版社，2008.06 14,475页：图；26cm 集成电路EDA技术 实用技术 ISBN 978-7-03-021490-4：CNY62.00 本书涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等内容。 ●
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1
1207457
212074574
自科库301/301自科库 26排3列5层/
[索取号:TN402/1]
在馆
2
1207458
212074583
自科库301/301自科库 26排3列5层/
[索取号:TN402/1]
在馆
