书目信息 |
| 题名： |
薄膜结构X射线表征
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| 作者： | 麦振洪 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2007.07 |
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| 页数： | 247页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 应用物理学丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TU38 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | X射线衍射分析--X she xian yan she fen xi--薄膜结构 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-018994-3 | |
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| 薄膜结构X射线表征/麦振洪等著.-北京：科学出版社，2007.07 |
| 247页：图；24cm.-(应用物理学丛书) |
| ISBN 978-7-03-018994-3：CNY40.00 |
| 本书结合作者20多年来的工作积累和国内外最新进展，系统介绍了应用X射线衍射和散射技术表征薄膜微结构的多种基本实验及薄膜和多层膜材料是重要的低维材料，如半导体外廷膜及超晶格材料、超导异质薄膜材料、金属磁性薄膜材料以及软物质薄膜材料等。 |
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正题名：薄膜结构X射线表征
索取号：TU38/M292
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 264417 | 202644175 | 建筑库101/101建筑库 89排2列2层/ [索取号:TU38/M292] | 在馆 | |
| 2 | 264418 | 202644184 | 建筑库101/101建筑库 89排2列2层/ [索取号:TU38/M292] | 在馆 |