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@a最新集成电路测试技术@Azui xin ji cheng dian lu ce shi ji shu@f高成, 张栋, 王香芬编著@Fgao cheng,zhang dong,wang xiang fen bian zhu
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@a本书系统介绍了常用集成电路测试的原理、方法和技术，范围涵盖了数字集成电路、模拟集成电路、SOC器件、数字/模拟混合集成电路、电源模块、集成电路测试系统、测试接口板设计等方面。
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| 最新集成电路测试技术/高成, 张栋, 王香芬编著.-北京：国防工业出版社，2009.02 |
| 290页：图；26cm |
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| ISBN 978-7-118-06071-3：CNY35.00 |
| 本书系统介绍了常用集成电路测试的原理、方法和技术，范围涵盖了数字集成电路、模拟集成电路、SOC器件、数字/模拟混合集成电路、电源模块、集成电路测试系统、测试接口板设计等方面。 |
| ● |
正题名：最新集成电路测试技术
索取号：TN407/G102
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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761395
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207613956
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期刊室512/301自科库 20排1列3层/
[索取号:TN407/G102]
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在馆
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2
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761396
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207613965
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自科库301/301自科库 26排4列4层/
[索取号:TN407/G102]
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在馆
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3
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761397
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207613974
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自科库301/301自科库 26排4列4层/
[索取号:TN407/G102]
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在馆
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