书目信息 |
| 题名： |
最新集成电路测试技术
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| 作者： | 高成 ， 张栋 ， 王香芬 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 国防工业出版社 2009.02 |
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| 页数： | 290页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN407 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--ji cheng dian lu--测试 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-118-06071-3 | |
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| 最新集成电路测试技术/高成, 张栋, 王香芬编著.-北京：国防工业出版社，2009.02 |
| 290页：图；26cm |
| ISBN 978-7-118-06071-3：CNY35.00 |
| 本书系统介绍了常用集成电路测试的原理、方法和技术，范围涵盖了数字集成电路、模拟集成电路、SOC器件、数字/模拟混合集成电路、电源模块、集成电路测试系统、测试接口板设计等方面。 |
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正题名：最新集成电路测试技术
索取号：TN407/G102
预约/预借
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| 1 | 761395 | 207613956 | 期刊室512/301自科库 20排1列3层/ [索取号:TN407/G102] | 在馆 | |
| 2 | 761396 | 207613965 | 自科库301/301自科库 26排4列4层/ [索取号:TN407/G102] | 在馆 | |
| 3 | 761397 | 207613974 | 自科库301/301自科库 26排4列4层/ [索取号:TN407/G102] | 在馆 |