书目信息 |
| 题名： |
现代测试技术
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| 作者： | 何广军 ， 高育鹏 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 西安 西安电子科技大学出版社 2007.03 |
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| 页数： | 270页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TB9 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 测试技术--ce shi ji shu--高等学校--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-5606-1809-8 | |
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| 现代测试技术/何广军, 高育鹏主编.-西安：西安电子科技大学出版社，2007.03 |
| 270页：图；26cm |
| “2110工程”资助.-使用对象：21世纪高等学校仪器仪表及自动化类专业规划教材 |
| ISBN 978-7-5606-1809-8：CNY22.00 |
| 本书详细介绍了测试技术的基本理论、原理和方法，其主要内容包括测试技术的有关概念，测试误差理论，各种常用电量和非电量参数的测试方法，常用仪器仪表、常用传感器的结构及工作原理，自动测试系统的设计及总线技术和数据采集与处理系统。 |
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正题名：现代测试技术
索取号：TB9/H172
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 244245 | 202442455 | 自科库501/501自科库 20排2列3层/ [索取号:TB9/H172] | 在馆 | |
| 2 | 244246 | 202442464 | 自科库501/501自科库 20排2列3层/ [索取号:TB9/H172] | 在馆 | |
| 3 | 244247 | 202442473 | 自科库501/501自科库 20排2列3层/ [索取号:TB9/H172] | 在馆 |