书目信息 |
题名: |
电磁兼容测试技术
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作者: | 张厚 , 唐宏 , 尹应增 编著 | |
分册: | ||
出版信息: | 西安 西北工业大学出版社 2008.09 |
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页数: | 152页 | |
开本: | 26cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TN03 | |
科图分类: | ||
主题词: | 电磁兼容性--dian ci jian rong xing--测试技术 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-5612-2452-6 |
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电磁兼容测试技术/张厚, 唐宏, 尹应增编著.-西安:西北工业大学出版社,2008.09 |
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高等学校教材 |
ISBN 978-7-5612-2452-6:CNY18.00 |
本书主要内容包括:电磁兼容基础,现代测试方法与技术新理念,测试和测量前的准备,电磁兼容测量的一般方法等。 |
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正题名:电磁兼容测试技术
索取号:TN03/Z118
 
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1 | 744716 | 207447164 | 自科库301/301自科库 33排1列3层/ [索取号:TN03/Z118] | 在馆 | |
2 | 744717 | 207447173 | 自科二线404/404自科库 11排2列6层/ [索取号:TN03/Z118] | 在馆 | |
3 | 744718 | 207447182 | 自科库301/301自科库 33排1列3层/ [索取号:TN03/Z118] | 在馆 |