书目信息

书名: 电子元器件检验技术 测试部分
作者: 王晓晗 罗宏伟 编著
出版信息: 北京   电子工业出版社  2019.01
开本页数: 26cm  XI, 382页
丛书名: 可靠性技术丛书
单 册:
中图分类: TN606
科图分类:
主题词: 电子元器件--dian zi yuan qi jian--检测
电子资源:
ISBN: 978-7-121-33485-6
000 01158nam 2200301 450
001 CAL 0120182610613
005 20181227103750.7
010    @a978-7-121-33485-6@dCNY98.00
100    @a20181227d2019 em y0chiy50 ea
101 @achi
102    @aCN@b110000
105    @ay a 000yy
106    @ar
200 @a电子元器件检验技术@Adian zi yuan qi jian jian yan ji shu@i测试部分@f王晓晗, 罗宏伟编著@Fwang xiao han , luo hong wei bian zhu
210    @a北京@c电子工业出版社@d2019.01
215    @aXI, 382页@d26cm
225 @a可靠性技术丛书@Ake kao xing ji shu cong shu
320    @a有书目
330    @a本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 以及不同类别电子元器件的检验技术等。
410  0 @12001 @a可靠性技术丛书
517 @a测试部分@Ace shi bu fen
586    @a
606 @a电子元器件@Adian zi yuan qi jian@x检测
690    @aTN606@v5
701  0 @a王晓晗@Awang xiao han@4编著
701  0 @a罗宏伟@Aluo hong wei@4编著
801  0 @aCN@c20181227
905    @a河南城建学院图书馆@dTN606@eW382@f2
    
    电子元器件检验技术.测试部分/王晓晗, 罗宏伟编著.-北京:电子工业出版社,2019.01
    XI, 382页;26cm.-(可靠性技术丛书)
    
    
    ISBN 978-7-121-33485-6:CNY98.00
    本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 以及不同类别电子元器件的检验技术等。
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正题名:电子元器件检验技术     索取号:TN606/W382         预约/预借

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1 1414717   214147172   自科库301/301自科库 28排4列3层/ [索取号:TN606/W382] 在馆    
2 1414718   214147181   自科库301/301自科库 28排4列3层/ [索取号:TN606/W382] 在馆